Tescan发布MIRA XR超高分辨率扫描电镜，面向材料表征与失效分析应用
Tescan近日发布MIRA XR超高分辨率扫描电子显微镜系统，面向电池技术、冶金、先进材料科学等领域的材料表征需求。该系统定位于Tescan MIRA与Tescan CLARA之间，旨在提供更高分辨率、更强表面敏感性和更简化的操作流程，服务于研发实验室、工业质控和失效分析等场景。据介绍，MIRA XR采用BrightBeam™技术和单一高效轴向探测器，可在无场成像条件下提升表面信号获取能力，适用于束敏感材料和磁性样品，并可减少表面镀膜等前处理需求。系统还配...
2026-08-26
