PNNL利用人工智能加速抗辐射芯片研发与测试

近日，美国太平洋西北国家实验室(Pacific Northwest National Laboratory, PNNL)团队成功将人工智能智能代理系统部署于抗辐射微芯片的测试与研发中，大幅缩短了用于卫星及核反应堆等极端高辐射环境下电子元件的评估周期。

据悉，银河宇宙射线、重离子与高能电子对微芯片构成了严重威胁，而增加物理屏蔽又会显著提升装备重量与运营成本。PNNL 团队依托田纳西大学(University of Tennessee)的离子束实验数据，通过内置的分层 AI 代理系统 SciLink，在几个小时内完成了传统测试需要数天乃至数周才能完成的离子撞击损伤分析与计算模拟。

该项目重点针对氮化铝镓(AlGaN)和氮化镓(GaN)异质结芯片进行了抗辐射加固评估，此类半导体广泛应用于通信、电力系统与雷达控制等核心领域。SciLink 系统通过协同分析原子探针断层扫描及扫描透射电子显微镜的数据，为结构损伤机制提供附带置信度评分的精准诊断，同时全程保持人类科研人员的监督与逻辑校验。

PNNL 抗辐射加固业务负责人本·科瓦什(Ben Kowash)与科研人员艾琳·巴克(Erin Barker)表示，引入智能工作流程是应对最新微电子架构辐射测试挑战的关键突破。该技术的成熟将为深空探测、通信卫星寿命延长以及未来先进核反应堆仪控系统的可靠运行提供坚实的技术支撑。